Gamma and x-ray spectrometry with semiconductor detectors /
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Formato: | Libro |
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Publicado: |
Amsterdam ; New York : New York, NY, USA :
North-Holland ;
c1988.
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Materias: |
Notas: | Incluye índices. |
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Descripción Física: | x, 399 p. : il. ; 23 cm. |
Bibliografía: | Bibliografía: p. 369-382. |
ISBN: | 0444871071 |