Semiconductor device measurements /

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Mulvey, John.
Formato: Libro
Lenguaje:
Publicado: Oregon : Tektronix, 1969.
Edición:1st ed.
Colección:Measurement concepts
Materias:
LEADER 00694nam#a22002175a#4500
001 BCCAB005198
008 060119s1969####xxu###########000#0#eng#d
005 20141215162157.0
003 AR-BCCAB
245 1 0 |a Semiconductor device measurements /  |c by John Mulvey ; significant contributions by John Tomlin, Lee Miles and Ed Smith. 
250 # # |a 1st ed. 
260 # # |a Oregon :  |b Tektronix,  |c 1969. 
300 # # |a 156 p. :  |b gráfs. ;  |c 23 cm. 
490 0 # |a Measurement concepts 
500 # # |a Índice (p. 155). 
100 1 # |a Mulvey, John. 
650 # 7 |a Semiconductores  |2 lemb 
650 # 7 |a Semiconductors  |2 lemb 
040 # # |a arbccab  |b spa 
942 # # |c BK 
952 # # |2 udc  |a ARBCCAB  |b ARBCCAB  |i 119  |o 621.382 M919  |p 119  |t 1  |y BK