Particle characterization in technology /

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Beddow, John K.
Formato: Libro
Lenguaje:Inglés
Publicado: Boca Raton, Fla. : CRC Press, c1984.
Colección:CRC series on fine particle science and technology
Uniscience series on fine particle science and technology
Materias:
Tabla de Contenidos:
  • v. 1. Applications and microanalysis
  • v. 2. Morphological analysis.