Structure and defects in SiO2, fundamentals and applications : proceedings of the Franco-Italian Symposium on Structure and Defects in SiO2, Fundamentals and Applications, Agelonde, France, September 23-25, 1996 /
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Formato: | Sin ejemplares |
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Publicado: |
Amsterdam :
Elsevier Science,
c1997.
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Colección: | Journal of non-crystalline solids,
v. 216 |
Descripción Física: | xi, 217 p. : il. ; 27 cm. |
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ISSN: | 0022-3093 ; |