Ion beam surface layer analysis /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: International Conference on Ion Beam Surface Layer Analysis (2nd : 1975 : Karlsruhe, Germany)
Autor Corporativo: International Conference on Ion Beam Surface Layer Analysis
Otros Autores: Meyer, O., Linker, Gerhard., Käppeler, F.
Formato: Libro
Lenguaje:
Publicado: New York : Plenum Press, c1976.
Materias:
Thin films > Effect of radiation on > Congresses.
Ion bombardment > Congresses.
Straggling (Nuclear physics) > Congresses.
Backscattering > Congresses.
Surfaces (Technology) > Congresses.
Superficies
Capas finas
Retrodispersión
Congresos.
Efectos de las radiaciones

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Instituto Balseiro

InventarioEj.UbicaciónDisponibilidadEstado de Circulación
1152 2 537.534:061.3 I8 1975 V. 2 Vol.2 Sala Disponible
1151 1 537.534:061.3 I8 1975 V. 1 Vol.1 Sala Disponible

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