Spectroscopic ellipsometry and reflectometry : a user's guide /

Guardado en:

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Tompkins, Harland G.
Otros Autores:	McGahan, William A., 1966-
Formato:	Libro
Lenguaje:
Publicado:	New York : Wiley, c1999.
Materias:	Ellipsometry. Reflectometer. Materials > Optical properties. Thin films > Optical properties. Surfaces (Technology) Elipsometría.
Acceso en línea:	Indice

Descripción
Notas:	"A Wiley-Interscience publication." Incluye índice.
Descripción Física:	xiv, 228 p. : il. ; 24 cm.
Bibliografía:	Incluye referencias bibliográficas.
ISBN:	0471181722 (cloth : acid-free paper)

Ejemplares similares