XAFS V : proceedings of the Fifth International Conference on X-Ray Absorption Fine Structure, held in Seattle, WA, USA on August 21-26, 1988 /

XAFS V : proceedings of the Fifth International Conference on X-Ray Absorption Fine Structure, held in Seattle, WA, USA on August 21-26, 1988 /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: International Conference on X-Ray Absorption Fine Structure (5th : 1988 : Seattle, Wash., U.S.)
Autor Corporativo: International Conference on X-Ray Absorption Fine Structure
Otros Autores: Mustre de León, José, ed.
Formato: Sin ejemplares
Lenguaje:
Publicado: Amsterdam : Elsevier, 1989.
Colección:Physica B 1989, v. 158, no. 1-3
Materias:
Spectroscopy > Congresses.
X-ray absorption > Congresses.
Espectroscopía
Espectroscopía de rayos x
X-ray spectrocopy
Congresos.
Descripción
Notas:Volúmen especial.
Descripción Física:xvi, 732 p. : il. ; 27 cm.
Bibliografía:Incluye referencias bibliográficas e índice.
ISSN:0921-4526 ;

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