Papers presented at the 1997 ICAM/E-MRS spring conference : Symposium C : Recent developments in electron microscopy and X-ray diffaction of thin film structures, Strasbourg, France, June 16-20, 1997 /

Papers presented at the 1997 ICAM/E-MRS spring conference : Symposium C : Recent developments in electron microscopy and X-ray diffaction of thin film structures, Strasbourg, France, June 16-20, 1997 /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: ICAM/E-MRS spring conference (1997 : Strasbourg, France)
Autor Corporativo: ICAM/E-MRS spring conference
Otros Autores: Rocher, A. M., ed.
Formato: Sin ejemplares
Lenguaje:
Publicado: Amsterdam : Elsevier, 1998.
Colección:Thin Solid Films, v. 319, nos. 1-2
Materias:
Thin films
Capas finas
Congresos.
Congresses.
Electron microscopy
Microscopia electrónica
Radiacion x
X radiation
Descripción
Descripción Física:viii, 279 p.
Bibliografía:Incluye referencias bibliográficas e índices.
ISSN:0040-6090 ;

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