Defect and microstructure analysis by diffraction /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Snyder, R. L. 1941-
Otros Autores: Fiala, Jaroslav., Bunge, H.-J.
Formato: Libro
Lenguaje:
Publicado: Oxford ; New York : Oxford University Press, 1999.
Colección:International Union of Crystallography monographs on crystallography ; 10
Materias:
Acceso en línea:Reseña
Indice.
Descripción
Descripción Física:xxii, 785 p. : il. ; 24 cm.
Bibliografía:Incluye referencias bibliográficas e índice.
ISBN:0198501897 (Hbk : acid-free paper)