Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /
Guardado en:
| Autor principal: | |
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| Otros Autores: | , |
| Formato: | Tesis Libro electrónico |
| Lenguaje: | Español |
| Publicado: |
La Habana :
Editorial Universitaria,
2015.
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | https://elibro.net/ereader/siduncu/90796 |
| Descripción Física: | 1 recurso en línea (vi, 142 páginas) : gráficos, tablas |
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| Bibliografía: | Contiene bibliografía. |
| ISBN: | 9789591628671 (e book) |
