Sistemas de muestreo para la inspección por atributos IRAM 15 - 2. ISO 2859-2. parte 2. Planes de muestreo para las inspecciones de lotes aislados, tabulados según la calidad límite ( LQ).
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Formato: | Libro |
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Lenguaje: | Español |
Colección: | Sampling system for inspection by attributes. |
Materias: |
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