Thinning methodologies for pattern recognition /

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Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Suen, C. Y., editor, Wang, P. S. P., editor
Formato: Libro
Lenguaje:Inglés
Publicado: [S.l.] : World Scientific, c1994.
Colección:Machines Perception and Artificial Intelligence ; 8
Materias:

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Fac. de Ingeniería

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