Caracterización de los niveles de trampas en HgI_2 rojo, con la técnica de espectroscopía de niveles profundos [DLTS]. /
Guardado en:
Autor principal: | Alvarez, Fabián J. |
---|---|
Otros Autores: | Saura, José., Universidad Nacional de Cuyo. Instituto Balseiro. |
Formato: | Libro |
Lenguaje: | Español |
Publicado: |
1984.
|
Materias: |
Ejemplares similares
-
Espectroscopía de niveles profundos en semiconductores. /
por: Fiscina, Jorge E.
Publicado: (1984.) -
Espectroscopía mecánica en Nd_60Fe_30Al_10 /
por: Tarnowski, Germán C.
Publicado: (2004.) -
Photoemission in solids /
Publicado: (1978-1979.) -
Solid-state spectroscopy : an introduction /
por: Kuzmany, H. 1940-
Publicado: (c2009.) -
Principles of high resolution NMR in solids /
por: Mehring, M., 1937-
Publicado: (c1983.)