Semiconductor measurements and instrumentation /
Guardado en:
Autor principal: | |
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Formato: | Libro |
Lenguaje: | |
Publicado: |
New York :
McGraw-Hill,
[1975]
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Colección: | Texas Instruments electronics series
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Materias: | |
Acceso en línea: | http://campi.cab.cnea.gov.ar/tocs/19382.pdf |
Descripción Física: | vii, 280 p. : il. ; 26 cm. |
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Bibliografía: | Incluye referencias bibliográficas e índice. |
ISBN: | 0070542732 |