Accelerated testing : statistical models, test plans and data analyses /
Guardado en:
Autor principal: | |
---|---|
Formato: | Libro |
Lenguaje: | |
Publicado: |
New York :
Wiley,
c1990.
|
Colección: | Wiley series in probability and mathematical statistics. Applied probability and statistics
|
Materias: | |
Acceso en línea: | Información biográfica Reseña |
Para reservar material debe primero ingresar al sistema
Instituto Balseiro
Inventario | Ej. | Ubicación | Disponibilidad | Estado de Circulación |
---|---|---|---|---|
14510 | 1 | 519.87 N336 | Sala | Disponible |
Acceso Online
Información biográficaReseña