Accelerated testing : statistical models, test plans and data analyses /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Nelson, Wayne, 1936-
Formato: Libro
Lenguaje:
Publicado: New York : Wiley, c1990.
Colección:Wiley series in probability and mathematical statistics. Applied probability and statistics
Materias:
Acceso en línea:Información biográfica
Reseña
Descripción
Notas:"A Wiley-Interscience publication."
Incluye índice.
Descripción Física:xiv, 601 p. : il. ; 25 cm.
Bibliografía:Bibliografía: p. 561-577.
ISBN:0471522775