Characterization of semiconductor materials /
Guardado en:
| Autor principal: | |
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| Otros Autores: | |
| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | |
| Publicado: |
New York :
McGraw-Hill,
[1970]
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| Colección: | Texas instruments electronics series
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| Materias: |
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Instituto Balseiro
| Inventario | Ej. | Ubicación | Disponibilidad | Estado de Circulación |
|---|---|---|---|---|
| 6879 | 1 | 621.382 K131 | Sala | Disponible |
