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| LEADER |
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| 008 |
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| 005 |
20060720111109.0 |
| 001 |
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| 003 |
AR-BCCAB |
| 245 |
1 |
0 |
|a Conférence internationale sur ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces =
|b Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis, 7-10 juin 1983, Paris, France.
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| 260 |
# |
# |
|a Les Ulis Cedex, France :
|b Éditions de physique,
|c 1983.
|
| 300 |
# |
# |
|a xviii, 533 p. :
|b il. ;
|c 25 cm.
|
| 504 |
# |
# |
|a Incluye referencias bibliográficas.
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| 020 |
# |
# |
|a 2902731698
|
| 111 |
2 |
# |
|a Conférence internationale sur ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces
|d (1983 :
|c Paris, France)
|
| 740 |
0 |
1 |
|a Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis.
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| 080 |
# |
# |
|a 538.971:061.3
|
| 650 |
# |
0 |
|a Ellipsometry
|v Congresses.
|
| 490 |
1 |
# |
|a Journal de physique. Colloque ;
|v 1983, C10
|
| 040 |
# |
# |
|a NMT
|c NMT
|d OCL
|d OCLCQ
|b spa
|d arbccab
|
| 500 |
# |
# |
|a "Europhysics journal."
|
| 500 |
# |
# |
|a On spine: Ellipsométrie 83.
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| 942 |
# |
# |
|c BK
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| 952 |
# |
# |
|2 udc
|7 NOT_LOAN
|a ARBCCAB
|b ARBCCAB
|i 007996_nuevo-0
|o J. PHYS. COLLOQ. 1983
|p 007996_nuevo-0
|t 1
|y BK
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