Conférence internationale sur ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces = Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis, 7-10 juin 1983, Paris, France.
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| Formato: | Sin ejemplares |
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| Publicado: |
Les Ulis Cedex, France :
Éditions de physique,
1983.
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| Colección: | Journal de physique. Colloque ;
1983, C10 |
| Materias: |
