International Workshop on Evaluation of Single-Crystal Diffraction Data from 2-D Position-Sensitive Detectors, November 4-6, 1985, Grenoble (France).
Guardado en:
| Autor principal: | |
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| Autor Corporativo: | |
| Formato: | Sin ejemplares |
| Lenguaje: | Inglés |
| Publicado: |
Les Ulis Cedex :
Les éditions de physique,
1986.
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| Colección: | Journal de physique. Colloque ;
t.47,C5 |
| Materias: |
| Descripción Física: | x, 201 p. : il. |
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| Bibliografía: | Incluye referencias bibliográficas. |
| ISBN: | 2868830307 |
