Transmission electron microscopy and diffractometry of materials /
Guardado en:
| Autor principal: | |
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| Otros Autores: | |
| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | Inglés |
| Publicado: |
Berlin ; New York :
Springer,
c2002.
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| Edición: | 2nd ed. |
| Materias: | |
| Acceso en línea: | Indice |
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Instituto Balseiro
| Inventario | Ej. | Ubicación | Disponibilidad | Estado de Circulación |
|---|---|---|---|---|
| 19990 | 1 | 537.533.35 F974 Ed.2 | Sala | Disponible |
