Transmission electron microscopy and diffractometry of materials /
Guardado en:
| Autor principal: | |
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| Otros Autores: | |
| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | |
| Publicado: |
Berlin ; New York :
Springer,
c2002.
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| Edición: | 2nd ed. |
| Materias: | |
| Acceso en línea: | Indice |
| Notas: | Incluye índice. |
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| Descripción Física: | xxi, 748 p. : il. ; 24 cm. |
| Bibliografía: | Incluye referencias bibliográficas. |
| ISBN: | 3540437649 (alk. paper) |
