Reflection electron microscopy and spectroscopy for surface analysis /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Wang, Zhong Lin.
Formato:	Libro
Lenguaje:	Inglés
Publicado:	Cambridge ; New York : Cambridge University Press, 1996.
Materias:	Materials > Microscopy. Surfaces (Technology) > Analysis. Reflection electron microscopy. Microscopía electrónica > Superficies.
Acceso en línea:	Reseña Indice

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Inventario	Ej.	Ubicación	Disponibilidad	Estado de Circulación
20960	1	537.533.35:538.971 W185	Sala	Disponible

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