Estudio por microscopía electrónica de los defectos de irradiación en el aluminio /

Estudio por microscopía electrónica de los defectos de irradiación en el aluminio /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Alvarez de la Colina de Nuñez Regueiro, M. Dolores.
Otros Autores: Guyot, Pierre., Universidad Nacional de Cuyo. Instituto de Física "Dr. José A. Balseiro".
Formato: Libro
Lenguaje:Español
Publicado: 1977.
Materias:
Solids. > Theses.
Radiation damage. > Theses.
Solidos. > Tesis.

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Instituto Balseiro

InventarioEj.UbicaciónDisponibilidadEstado de Circulación
13938 1 T.E. [043]53 1977 A86 Sala Disponible

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