Estudio por microscopía electrónica de los defectos de irradiación en el aluminio /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Alvarez de la Colina de Nuñez Regueiro, M. Dolores.
Otros Autores: Guyot, Pierre., Universidad Nacional de Cuyo. Instituto de Física "Dr. José A. Balseiro".
Formato: Libro
Lenguaje:Español
Publicado: 1977.
Materias:
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245 1 0 |a Estudio por microscopía electrónica de los defectos de irradiación en el aluminio /  |c M. Dolores Alvarez de la Colina de Nuñez Regueiro. 
260 # # |c 1977. 
300 # # |a 23 h. :  |b il, fig. ;  |c 30 cm. 
504 # # |a Incluye bibliografía: p. 17  |b 19. 
100 1 # |a Alvarez de la Colina de Nuñez Regueiro, M. Dolores.  |4 dis 
650 # 7 |a Solids.  |v Theses.  |2 inist 
650 # 7 |a Radiation damage.  |v Theses. 
650 # 7 |a Solidos.  |v Tesis.  |2 inist 
502 # # |a Tesis (licenciatura, Física)--Universidad Nacional de Cuyo. Instituto de Física "Dr. José A. Balseiro", 1977. 
700 1 # |a Guyot, Pierre.  |4 ths 
710 2 # |a Universidad Nacional de Cuyo.  |b Instituto de Física "Dr. José A. Balseiro".  |4 dgg 
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500 # # |a Director de tesis: Pierre Guyot. 
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952 # # |2 udc  |a ARBCCAB  |b ARBCCAB  |i 13938  |o T.E. [043]53 1977 A86  |p 13938  |t 1  |y TS