Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis /
Guardado en:
| Otros Autores: | |
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| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | |
| Publicado: |
New York :
Plenum Press,
c1986.
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| Materias: |
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Instituto Balseiro
| Inventario | Ej. | Ubicación | Disponibilidad | Estado de Circulación |
|---|---|---|---|---|
| 14365 | 1 | 537.533.35 N428 | Sala | Disponible |
