Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
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Formato: | Libro |
Lenguaje: | |
Publicado: |
New York :
Kluwer Academic/Plenum Publishers,
c2003.
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Edición: | 3rd ed. |
Materias: | |
Acceso en línea: | Indice |
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Instituto Balseiro
Inventario | Ej. | Ubicación | Disponibilidad | Estado de Circulación |
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19888 | 2 | 537.533.35 G578 Ed.3 CD-ROM | Sala | Disponible |
19883 | 1 | 537.533.35 G578 Ed.3 | Sala | Disponible |