Particle induced x-ray emission and its analytical applications : proceedings of the eighth International Conference on PIXE and its Analytical Applications, Lund, Sweden, June 14-18, 1998 /
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| Autor Corporativo: | |
| Otros Autores: | |
| Formato: | Sin ejemplares |
| Lenguaje: | |
| Publicado: |
Amsterdam ; New York :
North-Holland,
1999.
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| Colección: | Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms,
v. 150 |
| Materias: |
| Notas: | Incluye índice. |
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| Descripción Física: | xviii, 693 p. : il. ; 27 cm. |
| Bibliografía: | Incluye referencias bibliográficas. |
| ISSN: | 0168-583X ; |
