Particle induced x-ray emission and its analytical applications : proceedings of the Sixth International Conference on PIXE and its Analytical Applications, Tokyo, Japan, July 20-24, 1992 /
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Formato: | Sin ejemplares |
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Publicado: |
Amsterdam :
North-Holland,
1993.
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Colección: | Nuclear instruments & methods in physics research. Section B ;
v. 75 |
Materias: |
Notas: | Incluye índice. |
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Descripción Física: | xix, 603 p. : il. ; 27 cm. |
Bibliografía: | Incluye referencias bibliográficas. |