Particle induced x-ray emission and its analytical applications 3 : proceedings of the Third International Conference on PIXE and Its Analytical Applications : Heidelberg, Fed. Rep. Germany, July 18-22, 1983 /
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Formato: | Sin ejemplares |
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Publicado: |
Amsterdam :
North-Holland Physics Pub.,
1984.
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Colección: | Nuclear instruments & methods in physics research. Section B. Beam interactions with materials and atoms ;
v. 231 [B2] (1984) |
Materias: |
Notas: | Incluye índice. |
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Descripción Física: | xix, 712 p. : il. ; 27 cm. |
Bibliografía: | Incluye referencias bibliográficas. |