International Symposium on In-situ Electron Microscopy : Nagoya, Japan, 20-22 January 2003 /
Guardado en:
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| Autor Corporativo: | |
| Otros Autores: | |
| Formato: | Sin ejemplares |
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| Publicado: |
Abingdon, UK :
Taylor & Francis,
c2004.
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| Colección: | Philosophical magazine. structure and properties of condensed matter ;
v. 84, no. 25-26 (2004 Set. 1-11). |
| Materias: |
| Notas: | "Special issue." Cover title. |
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| Descripción Física: | p. 2595-2828 : il. (some col.) ; 25 cm. |
| Bibliografía: | Incluye referencias bibliográficas. |
