International Symposium on In-situ Electron Microscopy : Nagoya, Japan, 20-22 January 2003 /

International Symposium on In-situ Electron Microscopy : Nagoya, Japan, 20-22 January 2003 /

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: International Symposium on In-situ Electron Microscopy (2003 : Nagoya-shi, Japan)
Autor Corporativo: International Symposium on In-situ Electron Microscopy
Otros Autores: Saka, H.
Formato: Sin ejemplares
Lenguaje:Inglés
Publicado: Abingdon, UK : Taylor & Francis, c2004.
Colección:Philosophical magazine. structure and properties of condensed matter ; v. 84, no. 25-26 (2004 Set. 1-11).
Materias:
Electron microscopy > Congresses.
Descripción
Notas:"Special issue."
Cover title.
Descripción Física:p. 2595-2828 : il. (some col.) ; 25 cm.
Bibliografía:Incluye referencias bibliográficas.

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