International Symposium on In-situ Electron Microscopy : Nagoya, Japan, 20-22 January 2003 /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: International Symposium on In-situ Electron Microscopy (2003 : Nagoya-shi, Japan)
Autor Corporativo: International Symposium on In-situ Electron Microscopy
Otros Autores: Saka, H.
Formato: Sin ejemplares
Lenguaje:
Publicado: Abingdon, UK : Taylor & Francis, c2004.
Colección:Philosophical magazine. structure and properties of condensed matter ; v. 84, no. 25-26 (2004 Set. 1-11).
Materias:
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245 1 0 |a International Symposium on In-situ Electron Microscopy :  |b Nagoya, Japan, 20-22 January 2003 /  |c guest editor, H. Saka. 
260 # # |a Abingdon, UK :  |b Taylor & Francis,  |c c2004. 
300 # # |a p. 2595-2828 :  |b il. (some col.) ;  |c 25 cm. 
504 # # |a Incluye referencias bibliográficas. 
111 2 # |a International Symposium on In-situ Electron Microscopy  |d (2003 :  |c Nagoya-shi, Japan) 
700 1 # |a Saka, H.  |q (Hiroyasu) 
730 0 # |a Philosophical magazine (Abingdon, England).  |n V. 84, no. 25-26. 
246 3 0 |a In-situ Electron Microscopy 
650 # 0 |a Electron microscopy  |v Congresses. 
490 1 # |a Philosophical magazine. structure and properties of condensed matter ;  |v v. 84, no. 25-26 (2004 Set. 1-11). 
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