$Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials /$

Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Pecharsky, Vitalij K.
Otros Autores:	Zavalij, Peter Y.
Formato:	Libro
Lenguaje:	Inglés
Publicado:	New York : Springer, c2005.
Materias:	X-rays > Diffraction > Measurement. Powders > Optical properties > Measurement. X-ray crystallography. Difracción de rayos x. Polvos. Cristalografía. Propiedades ópticas
Acceso en línea:	Indice.

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Instituto Balseiro

Inventario	Ej.	Ubicación	Disponibilidad	Estado de Circulación
20556	4	548.73 P332 Ej.2	Sala	Disponible
20575	3	CD-ROM 548.73 P332	Sala	Disponible
20077	2	CD-ROM 548.73 P332	Sala	Disponible
20076	1	548.73 P332	Sala	Disponible

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