$Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials /$

Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Pecharsky, Vitalij K.
Otros Autores:	Zavalij, Peter Y.
Formato:	Libro
Lenguaje:
Publicado:	New York : Springer, c2005.
Materias:	X-rays > Diffraction > Measurement. Powders > Optical properties > Measurement. X-ray crystallography. Difracción de rayos x. Polvos. Cristalografía. Propiedades ópticas
Acceso en línea:	Indice.

Descripción
Notas:	Originalmente publicado: Boston : Kluwer Academic Publishers, c2003. Acompañado de CD-ROM que contiene versiones en color de las figuras, ejemplos, problemas y soluciones.
Descripción Física:	xxiii, 713 p. : il. ; 24 cm. + 1 CD-ROM (12 cm.)
Bibliografía:	Incluye referencias bibliográficas e índice.
ISBN:	0387241477 (softcover) 0387245677 (e-book)