Scanning tunneling microscopy /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: International Colloquium on Scanning Tunneling Microscopy (4th : 1996 : Kanazawa, Japan)
Autor Corporativo: International Colloquium on Scanning Tunneling Microscopy
Otros Autores: Kawazu, A.
Formato: Sin ejemplares
Lenguaje:
Publicado: Tokyo, Japan : Japanese Journal of Applied Physics, 1997.
Colección:Japanese journal of applied physics. ; v. 36, no. 6B

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