Scanning probe microscopy.
Guardado en:
| Autor principal: | |
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| Autor Corporativo: | |
| Formato: | Sin ejemplares |
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| Publicado: |
Tokyo, Japan :
The Japan Society of Applied Physics,
2009.
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| Colección: | Japanese journal of applied physics ;
48, no. 8, |
| Materias: |
| Notas: | "Special issue." Incluye índice. |
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| Descripción Física: | p. : il. ; 30 cm. |
| Bibliografía: | Incluye referencias bibliográficas. |
| ISSN: | 0021-4922 |
