Papers presented at the Ninth International Conference on Defects : Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP-IX), Rimini, Italy, 24-28th September 2001 /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (9th : 2001 : Rimini, Italy)
Autor Corporativo: International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors
Otros Autores: Frigeri, C.
Formato: Sin ejemplares
Lenguaje:
Publicado: Amsterdam : Elsevier, c2002.
Colección:Materials science & engineering. B, Solid-state materials for advanced technology ; v. B91-92 (30 Apr. 2002).
Materias:
Descripción
Notas:"Special issue."--Cover.
Incluye indices.
Descripción Física:xii, 559 p. : il. (some col.) ; 28 cm.
Bibliografía:Incluye referencias bibliográficas.