Papers presented at the Ninth International Conference on Defects : Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP-IX), Rimini, Italy, 24-28th September 2001 /
Guardado en:
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| Autor Corporativo: | |
| Otros Autores: | |
| Formato: | Sin ejemplares |
| Lenguaje: | Inglés |
| Publicado: |
Amsterdam :
Elsevier,
c2002.
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| Colección: | Materials science & engineering. B, Solid-state materials for advanced technology ;
v. B91-92 (30 Apr. 2002). |
| Materias: |
| Notas: | "Special issue."--Cover. Incluye indices. |
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| Descripción Física: | xii, 559 p. : il. (some col.) ; 28 cm. |
| Bibliografía: | Incluye referencias bibliográficas. |
