Electron beam interactions with solids for microscopy, microanalysis & microlithography /

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Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Kyser, David F., Pfefferkorn Conference
Formato: Libro
Lenguaje:Inglés
Publicado: O´Hare : Scanning Electron Microscopy, c1984.

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Instituto Balseiro

InventarioEj.UbicaciónDisponibilidadEstado de Circulación
12037 1 537.533.35:061.3 P475 1982 Sala Disponible