High resolution focused ion beams : FIB and its applications : the physics of liquid metal ion sources and ion optics and their application to focused ion beam technology /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Orloff, Jon.
Otros Autores: Swanson, Lynwood, 1934-, Utlaut, Mark William, 1949-
Formato: Libro
Lenguaje:
Publicado: New York : Kluwer Academic/Plenum Publishers, c2003.
Materias:
Acceso en línea:Indice
Descripción
Descripción Física:x, 303 p. : il. ; 26 cm.
Bibliografía:Incluye referencias bibliográficas e índices.
ISBN:030647350X