Desarrollo de un dispositivo estanco para microscopía electrónica de barrido /

Desarrollo de un dispositivo estanco para microscopía electrónica de barrido /

Guardado en:

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Calvera López, Sebastián.
Otros Autores:	Baruj, Alberto., Meyer, Gabriel O., Universidad Nacional de Cuyo. Instituto Balseiro
Formato:	Libro
Lenguaje:	Español
Publicado:	2020.
Materias:	Scanning electron microscopy > Theses. Sample holders > Theses. Microscopía electrónica por barrido > Tesis Portamuestras > Tesis Watertight device Mechanical Design Dispositivo estanco Diseño mecánico
Acceso en línea:	Indice

Ejemplares similares

Microscopía electrónica de barrido /
por: Ipohorski, M.
Publicado: (1995.)

Microscopía electrónica de barrido /
por: Ipohorski, Miguel.
Publicado: (1973.)

Scanning transmission electron microscopy : imaging and analysis /
Publicado: (c2011.)

Scanning transmission electron microscopy of nanomaterials : basics of imaging and analysis /
Publicado: (c2015.)

Biodegradación de polietileno evaluada con microscopía electrónica de barrido y espectroscopía infrarroja

Caracterización mecánica y microestructural de daño por fretting en materiales para tubos de generadores de vapor /
por: Soria, Sergio R.
Publicado: (2018.)

Biodegradación de poliestireno evaluada con microscopía electrónica de barrido y espectroscopía infrarroja

Microstructural characterization of materials /
por: Brandon, D. G.
Publicado: (c2008.)

Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis /
Publicado: (c1986.)

Técnicas avanzadas de microscopía electrónica /
por: Ipohorski, Miguel.
Publicado: (1990.)

Microscopía electrónica de láminas delgadas /
por: Ipohorski, Miguel.
Publicado: (1982.)

Microscopía confocal
por: Pucciarelli, Mariana.
Publicado: (2009)

Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis : a text for biologists, materials scientists, and geologists /
Publicado: (c1992.)

Diseño de dispositivos para la realización de ensayos de fatiga "in situ" en microscopio óptico y de barrido /
por: Stefanuto, Guido.
Publicado: (2015.)

Maquinado de titanio adherido a paneles de materiales compuestos /
por: Stefanuto, Guido.
Publicado: (2013.)

Scanning tunneling microscopy /
Publicado: (c1993.)

Electron microprobe analysis and scanning electron microscopy in geology /
por: Reed, S. J. B.
Publicado: (1996.)

Selección de un sistema de barrido que permita dopar un sustrato con implantación iónica, de manera uniforme /
por: Arévalo, Horacio M.
Publicado: (1974.)

Diseño e implementación parcial de un sistema electrónico para microscopía túnel de barrido. /
por: Belussi, Cristian H.
Publicado: (2013.)

Electron backscatter diffraction in materials science /
Publicado: (2009.)

Scanning probe microscopy.
por: International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (16h : 2008 : Atagawa Heights, Higashi-izu, Japan)
Publicado: (2009.)

Scanning probe microscopy /
por: International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (8th : 2000 : Shizuoka-ken, Japan)
Publicado: (c2001.)

Electron microscopy and strength of crystals : proceedings of the First Berkeley International Materials Conference 'The impact of transmission electron microscopy on theories of the strength of crystals' /
por: Berkeley International Materials Conference (1st : 1961 : Berkeley)
Publicado: (1963.)

Diseño y construcción de dispositivo de ensayos de CHF a escala /
por: Molina, Tomás.
Publicado: (2020.)

El osmóforo de cyphomandra (Solanaceae) estudio con microscopio electrónico de barrido
por: COCUCCI, Andrea A.

Biodegradación de polipropileno evaluada con microscopía electrónica de barrido y espectroscopía infrarroja

Microscopy and analysis.
por: Microscopy and analysis (Americas ed.)

Fundamentals of light microscopy and electronic imaging /
por: Murphy, Douglas B.
Publicado: (c2001.)

Light and video microscopy /
por: Wayne, Randy.
Publicado: (c2009.)

SPM '99 : proceedings of the International Conference on Scanning Probe Microscopy, Cantilever Sensors and Nanostructures, Seattle, USA, May-June1, 1999 /
por: International Conference on Scanning Probe Microscopy, Cantilever Sensors and Nanostructures (1st : 1999 : Seattle)
Publicado: (2000.)

STM '86 : proceedings of the First International Conference on Scanning Tunneling Microscopy, Santiago de Compostela, Spain, 14-18 July 1986 /
por: International Conference on Scanning Tunneling Microscopy (1st : 1986 : Santiago de Compostela, Spain)
Publicado: (1987.)

SPM 2000 : proceedings of the second International Conference on Scanning Probe Microscopy, Sensors and Nanostructures : Heidelberg, Germany, May 28-31, 2000 /
por: International Conference on Scanning Probe Microscopy, Sensors and Nanostructures (2nd : 2000 : Heidelberg, Germany)
Publicado: (2001.)

Técnicas generales para microscopía electrónica
por: Bolondi, Arquímedes
Publicado: (s.f.)

Atlas de microscopía electrónica : células y tejidos
por: Porter, Keith R
Publicado: (c1965.)

Handbook of microscopy : applications in materials science, solid-state physics, and chemistry /
Publicado: (c1997.)

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
Publicado: (c2003.)

Microscopía confocal
por: LICHTMAN, Jeff W.

Video microscopía /
por: Inoué, Shinya
Publicado: (1993.)

Electron microscopy and analysis /
por: Goodhew, Peter J.
Publicado: (c2001.)

Principles of analytical electron microscopy /
Publicado: (c1986.)